HORIBA顆粒物監測GD-Profiler 2產品介紹產品詳情
商品詳情
顆粒物監測GD-Profiler 2-探索一個全新的世界
概 要
GD-Profiler 2?提供了快速、同時分析所有感興趣的元素，包括氮、氧、氫和氯。是薄膜描述和工藝研究的理想工具。
配有RF光源，可以在脈沖模式下檢測易碎的樣品，GD-Profiler 2?的應用范圍從對腐蝕的研究到PVD涂層的工藝控制，在大學被廣泛用于常規的金屬和合金產品的研究。
特 征
· RF射頻發生器- 標準配置，符合E級標準，穩定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩定時間極短，表面信息無任何失真。
· 脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
· 多道(同時)型光學系統可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外，可分析C, H, O, N, Cl
· HORIBA Jobin Yvon 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有*大光通量，因而有*高的光效率和靈敏度
· 磚利HDD? 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測，動態范圍達到10個量級
· 寬大的樣品室方便各類樣品的加載
· 功能強大的QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測報告
· 激光指點器(CenterLite laser pointer，磚利申請中)可用于精準加載樣品
· HORIBA Jobin Yvon獨有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1個元素
